X光鍍層測(cè)厚儀是一種利用X射線穿透材料并激發(fā)熒光的原理，通過(guò)分析熒光強(qiáng)度來(lái)測(cè)量鍍層厚度的儀器。其檢測(cè)范圍廣泛，以下是其可檢測(cè)的典型范圍及應(yīng)用場(chǎng)景：
1.金屬鍍層
常見(jiàn)金屬：金（Au）、銀（Ag）、銅（Cu）、鎳（Ni）、鉻（Cr）、錫（Sn）、鋅（Zn）、鐵（Fe）等。
合金鍍層：如鎳磷合金、錫鉍合金等。
多層鍍層：可同時(shí)測(cè)量多層結(jié)構(gòu)，并分別給出每層厚度。
2.非金屬鍍層
塑料、橡膠、油漆等有機(jī)涂層（需配合特定校準(zhǔn)）。
部分無(wú)機(jī)涂層（如陶瓷、玻璃鍍層）。
二、X光鍍層測(cè)厚儀可檢測(cè)的基材類型
1.金屬基材
鋼鐵、鋁合金、銅合金、鋅合金、鈦合金等。
支持復(fù)雜形狀基材（如曲面、凹凸面、微小零件），但需注意測(cè)試點(diǎn)的有效面積。
2.非金屬基材
塑料、橡膠、木材、玻璃等（需選擇適合的X射線管電壓和校準(zhǔn)方法）。
三、厚度檢測(cè)范圍
1.常規(guī)范圍
最小厚度：通常可檢測(cè)到0.01微米（10納米）級(jí)別，適用于超薄鍍層（如半導(dǎo)體芯片上的鍍金層）。
最大厚度：一般可達(dá)幾十微米至數(shù)百微米，具體上限取決于鍍層材料和儀器型號(hào)。
2.多層鍍層分析
可測(cè)量最多3~5層的多層結(jié)構(gòu)，每層厚度需在儀器靈敏度范圍內(nèi)。
例如：鋼鐵基材上的Ni/Cu/Au三層鍍層。
四、X光鍍層測(cè)厚儀元素檢測(cè)范圍
1.原子序數(shù)范圍
通常可檢測(cè)原子序數(shù)≥3（鋰）的元素，但實(shí)際檢測(cè)下限受儀器配置影響。
輕元素（如Al、Mg）：需配備低能量X射線源或真空環(huán)境。
重元素（如Au、Pb）：檢測(cè)靈敏度更高。
2.濃度范圍
鍍層中元素濃度可檢測(cè)至ppm（百萬(wàn)分之一）級(jí)，適用于微量元素分析。
