X-RAY膜厚儀標準片

XRF-2000校準片

應用：儀器新程序建立及更新校

MicropioneerXRF-2000

MicroP XRF-2020

XRF-2020鍍層測厚儀標準片(通用各品牌X-RAY膜厚儀）

X-RAY膜厚儀標準片XRF-2000校準片

X-RAY膜厚儀標準片XRF-2000校準片

系列型號：

規格如下圖

X射線測厚儀X-RAY鍍層膜厚儀

適應于各類五金電鍍,電子連接器端子等。

可測金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鈀,銠,鉑,鋅鎳合金等鍍層。

應用廣泛，適應電鍍生產企業，產品來料檢測等。

儀器特點:

全自動臺面，自動雷射對焦，多點自動測量

功能及應用：

檢測電子電鍍,五金電鍍,端子連接器,線路板,半導體等膜厚

可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限底材。

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等合金鍍層：

鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等

X射線X-RAY膜厚儀

MicropioneerXRF-2000

XRF-2020

X-RAY膜厚儀標準片XRF-2000校準片

配置全自動臺面，自動雷射對焦,多實現多點自動測量